XSE分析天平

采用高分辨率后置式传感器,内置两组校正砝码,满足用户高精度的称量需求

型号 : XSE
品牌 : 梅特勒-托利多
价格 : 商议

   

 XSE分析天平

•采用高分辨率后置式传感器,内置两组校正砝码,满足用户高精度的称量需求

•StatusLightTM 状态指示灯,通过颜色直观显示天平的状态

•具有中文界面的TFT彩色触摸屏,实现安全、便捷的天平操作

•SmartGrid悬挂式网络秤盘、获得快速、准确称量结果

•ErgoClips Basket易巧称量件,安全放置去皮容器

•LevelGuideTM 水平向导,在天平未处于水平时提供警告,并在触摸屏上显示完整的说明和红/绿色实时图形化平水泡

•SmartTracTM  动态图形显示,直接显示天平已使用的称量范围

•proFACT专业级全自动校准技术,温度漂移和时间设置触发的自动内置砝码校正和线性校正,获得精确称量结果

•MinWeigh最小称量值功能,提供符合质量法规的称量帮助

•TesManagerTM 测试管理器内置固件中进行符合SOP的日常测试

•具有基础称量,统计功能、配方称量、计件称量、百分比称量、密度测定、差重称量、滴定应用、移液器测试等内置应用程序

•完全可拆卸,清洗的防风罩设计,实现快速清洁

•标配RS232通讯接口和一个可用于蓝牙、以太网、LocalCAN、RS232和PS/2通讯接口选件插槽,方便连接打印机、电脑等外围设备

•通过英特网下载e-Loader II软件,实现天平软件的即时更新

 

 

 


XSE105DU

XSE205DU

XSE104

XSE204

最大秤量{g}

41/120

81/220

120

220

可读性{mg}

0.01/0.1

0.01/0.1

0.1

0.1

重复性{sd}{mg}

0.01/0.04

0.01/0.04

0.04

0.04

线性误差{mg}

0.06

0.06

0.1

0.1

稳定时间{s}

3/1.5

3/1.5

1.5

1.5

秤盘尺寸(WxD){mm}

78x73

78x73

78x73

78x73

 

 

DU=双量程     sd=标准偏差