美国XOS HD-Prime 台式X射线荧光光谱仪

美国XOS HD-Prime 台式X射线荧光光谱仪1. XOS 公司介绍:◆ XOS® (X-Ray Optical Systems, Inc. X射线光学系统公司) 总部位于美国纽约州首府Albany, 为丹纳赫水质平台子公司。◆ XOS®是一家全球领先的关键性应用材料和元素分析设备供应商,为重视控制材料质量与性能的行业监管部门和客户提供拥有先进技术的分析设备。◆ XOS公司拥有强大的研发和设计

型号 : HD-Prime
品牌 : 美国XOS
价格 : 商议

美国XOS HD-Prime 台式X射线荧光光谱仪

1. XOS 公司介绍:

◆ XOS® (X-Ray Optical Systems, Inc. X射线光学系统公司) 总部位于美国纽约州首府Albany, 为丹纳赫水质平台子公司。

◆ XOS®是一家全球领先的关键性应用材料和元素分析设备供应商,为重视控制材料质量与性能的行业监管部门和客户提供拥有先进技术的分析设备。

◆ XOS公司拥有强大的研发和设计能力,与美国的众多研究机构有合作关系,曾经参与了许多著名的课题设计,包括美国宇航局的行星元素探测计划(XRF方法)等。

◆ XOS拥有先进的X射线光学技术,能够帮助客户将测量灵敏性提高百倍,减少测量时间,提高空间分辨率,缩小设备尺寸,并且节约设备成本。

◆ XOS公司的光学晶体广泛应用于大型波长色散型XRF、微区聚焦XRF、扫描电镜等高端X射线仪器。XOS公司与其他著名的XRF生产厂商都有合作,提供给它们必需的光学聚焦晶体。

◆ XOS公司具备HDXRF的核心技术——DCC,也是目前世界上唯一一家拥有自己核心技术的XRF生产厂商,其他品牌XRF的核心部件——X光管、滤光片、准直器等均为外购。

◆ XOS公司在高端元素分析领域有着广泛的技术应用,XOS公司与美国NASA下属的JPL实验室合作,研发了一款专门用于2020火星计划的XRF元素分析仪

 

2. 主要技术参数和优点:

1) 采用XOS专利技术DCC®(双曲面弯晶技术),取代传统的滤光片和准直器,真正实现单色光激发样品;(独一无二)

2) 检测光斑1mm,适合测试不规则样品和细小样品;

3) 采用高速SDD硅漂移探测器,分辨率高,无需液氮冷却;

4) 满足美国ASTM F2853标准;(独一无二)

5) 可同时测试涂层与基材中的重金属含量;(独一无二)

6) 采用基本参数法,可分析各类未知样品;等等

美国XOS HD-Prime 台式X射线荧光光谱仪

HD Mobile分析仪结构图.jpg

用于玩具和儿童用品

 

HD Prime用XOS特有的高清晰光谱技术,测量玩具和儿童用品中的铅以及其他有毒元素,可测量出微量成份。HD Prime分析仪采用先进的光学分析技术,可分别测出产品基材和涂层中有毒元素的成份。这种分析技术可测量目前和将来由CPSIA规定的含量极限。HD Prime分析仪有用户满意的界面,既能快速定性检测,又能精确定量分析。性能价格比高。测量是非破坏性的,不需要费钱耗时的样品准备,而且不会损坏被测商品,已备复查。高清晰光谱仪使负责产品安全的行业和政府管理部门能够快速、准确、方便地检测产品。

 

检测铅和其它有毒元素

应用领域

•玩具和儿童用品中多种有毒元素测量,符合CPSIA规定的要求

•快速准确地定性定量分析有毒元素

•使用场合:工厂的生长线上和实验室、第三方检测实验室、零售商、检测部门

•符合ASTM F2853和F2617标准

 

性能和特点

•测定有毒元素(Pb,Sb,As,Ba,Cd,Cr,Hg,Se,Br,and CI)

•HD Prime 可分别测出产品基材和涂层中有毒元素的成份

•1mm小面积分析,能检测不规则形状

•使用方便,可供工厂、实验室使用,2小时培训

•不需要样品准备:无须剥离和浸煮涂层,从而不破坏产品结构

•定性检测模式:提供有毒元素快速检测

•定量检测模式:精确地确定涂层和基底材料中元素成份

 

产品规格

元素

Pb,Sb,As,Ba,Cd,Cr,Hg,Se,Br,Cl


分析范围

小于5000ppm


分析模型

定性模式:快速检测元素的存在

定量模式:精确准确地确定元素成份



一次测量可同时得到涂层和基底中的元素成份并分别记录


定性测量时间只测基底

塑料,木头,橡胶,皮革,织物,湿涂料未~2min

金属为~3min


定量测量时间涂层

~5min


测量面积

直径1mm


环境温度

5-35°C


相对湿度

80%max


功率要求

90~264VAC,47~63Hz


光管电压

50kVmax


系统功耗

200W max

结构

分析仪尺寸

H:812mm.W:914mm. D:660mm(32”×36”×26”)


样品室尺寸

H:560mm.W:851mm. D:582mm

(22”×33.5”×23”)


分析仪重量

110kg(240Ibs)


数据输出

硬盘存储

为LIMS连接USB输出接口


摄像头

一个摄像头:样品的大视角成像

另一摄像头:分析面积的近视角成像


操作 系统

视窗系统


探测面积选择

激光对中

用户界面

材料选择

塑料,金属,木头,玻璃,橡胶,皮革,织物


量化:测试结果

基底中的成份单位是ppm(wt),用颜色块表示是否通过涂层中成份单位是ppm(wt)和ug/cm2 ,用颜色块表示是否通过

包含光谱分析


定性:测试结果

颜色块表示是否通过


用户输入操作员名字和样品细节

用户,样品定义和描述


数码成像

每次测量都储存样品和被测面积的图像


校准

自动校准程序