所用设备
仪器：博勒飞CTX（5Kg负载单元）
附件：2 mm Cylinder Probe (TA-39)
软件：Texture Pro软件
测试类型：Compression压缩
测前速度：0.5 mm/s
测试速度：1.0 mm/s
测后速度：4.5 mm/s
目标类型：Distance
目标距离：2 mm
触发负载：5 g
如下是一个典型的CTX质构仪测试谱图，显示了面饼的硬度，脆性等指标。
图1：粉饼穿刺测试曲线图（负载/时间）
硬度：测试过程中峰值最大力值；
第一断裂衰减：代表产品脆性的层次性，衰减越大说明脆性的层次感越弱；
断裂性：产品发生第一次断裂的力值，力值越大说明越不容易断裂。
测试结果如下:
通过图1可知，当探头向下运行直至达到粉饼表面的破裂点之前，应力一直处于上升的趋势；到达破裂点时，图中显示第一个应力峰值；穿透表面后，测量的力值稳步增加，直到测量到第二个峰值，峰值越大，说明粉末的致密程度越高。
